Ein schneller, quelloffener Speichertester für historische DRAM- und SRAM-Chips — von C64 und Amiga bis Apple II und ZX Spectrum. Entwickelt und gepflegt von der Person, die ihn gebaut hat.
Chip einstecken, DIP-Schalter auf die Pin-Zahl stellen, Reset drücken. Der Tester erkennt den Typ automatisch und führt die komplette Diagnose aus — keine Menüs, keine Algorithmus-Auswahl, kein Datenblatt-Nachschlagen. Das Urteil erscheint auf dem OLED oder als einfache grüne/rote LED.
16/18/20-Pin-Chips wie 4164, 41256 oder 514256 — direkt in den Sockel.
ZIP-Gehäuse wie 514256 oder 514400 direkt testen — ohne Adapter.
Prüft die eigene Hardware des Testers. Ein QR-Code führt direkt zur Doku.
Kein Handbuch, kein Vorwissen. Fünf Handgriffe — den Rest macht der Tester automatisch.
RAM-Chip wählenAnzahl Beinchen einstellenin den Sockel legeneinsteckenfertig
Kompletter Hands-on-Rundgang · 14 Min
Andere Tester lassen dich einen Testmodus wählen. Dieser führt einfach alle aus — und sagt dir genau, was er gefunden hat.
Pin-Zahl einstellen, fertig. Chiptyp, Sockel und die komplette Algorithmus-Suite werden für dich erledigt.
Ein kompletter 4164 in unter 2 Sekunden. Ein ganzes Tray Chips in Minuten statt am Nachmittag.
Muster, Übersprechen, Adressleitungs-Prüfung, echtes Retention-Timing, CAS-before-RAS-Refresh, Fast Page & Static Column.
Gleicher Chip, gleiche Diagnose — jedes Mal. Keine Marketing-Regler, keine Show, nur ein deterministisches Urteil.
Kurzschlussschutz, Strombegrenzung und Masseschluss-Erkennung — sichtbar direkt im Schaltplan.
Hardware, Firmware und Schaltpläne auf GitHub unter GPLv3. Jede Aussage auf dieser Seite steht im Code.
Dies sind simulierte Fehler-Szenarien, die zeigen, was der Tester tatsächlich erkennt — vom harten Kurzschluss bis zum hochohmigen Soft-Fault.







Optionale Adapterplatinen erweitern den Tester auf Gehäuse, die ein normaler Sockel nicht erreicht — inklusive SMD-SOJ-Pulls und ZIP-Varianten, die du bei anderen Testern nicht findest.
Erzeugt +12 V / −5 V auf der Platine, um klassische 16-Pin-DRAM sicher zu testen. Einzeln oder im Bundle erhältlich.
Teste SOJ-Speicher, den du von Amiga- und späteren Boards ausgelötet hast — direkt, ohne ihn wieder einzulöten. Das Gehäuse, das die «professionellen» Black-Box-Geräte weglassen.

Die selteneren ZIP-Pinouts, abgedeckt. Zwei dedizierte Adapter für die Chips, die andere Tester einfach auslassen.
Zeiten gelten für den kompletten Test — Muster, Retention, CAS-before-RAS-Refresh, Fast Page & Static Column sowie Adressleitungs-Prüfung. Zeiten gelten für die aktuelle Firmware-Version.
| Chip | Kapazität | Pins | Testzeit | Anmerkung |
|---|---|---|---|---|
| 4027 | 4K × 1 | 16 | 0.2 s | Multi-Voltage — über 4116-Adapter |
| 4116 | 16K × 1 | 16 | 0.5 s | Multi-Voltage — über 4116-Adapter |
| 4816 | 16K × 1 | 16 | 0.7 s | |
| 3732 / 4532 | 32K × 1 | 16 | 1.8 s | Halb-gute 4164-Chips |
| 4164 | 64K × 1 | 16 | 1.8 s | C64, ZX Spectrum & viele mehr |
| 41256 / 41257 | 256K × 1 | 16 | 7.5 s | 41257 nutzt Nibble Mode |
| 4416 | 16K × 4 | 18 | 1.7 s | |
| 4464 | 64K × 4 | 18 | 5.2 s | |
| 511000 / 411000 | 1M × 1 | 18 | 23.8 s | DIP · SOJ über Adapter · ZIP braucht Adapter |
| 514256 / 514258 | 256K × 4 | 20 | 3.5 s | DIP & ZIP · 514258 = Static Column · SOJ über Adapter |
| 514400 / 514402 | 1M × 4 | 20 | 12.0 s | DIP & ZIP · 514402 = Static Column · SOJ über Adapter |
| 2114 | 1K × 4 SRAM | 18 | 0.4 s | Um 180° gedreht einsetzen — siehe Handbuch |
SOJ-Gehäuse (514400, 514402, 514256, 514258, 441000) und die 441000- / 41256-ZIP-Pinouts laufen über die optionalen Adapterplatinen oben. Zeiten gelten für die aktuelle Firmware-Version. Herstellerbezeichnungen (HM…, MB…, µPD…, TMS…, MSM… u. a.): siehe compatibility.md.
Ein Diagnose-Werkzeug ist nur so vertrauenswürdig wie das, was es zugibt. Also hier die ehrliche Version.
Kein Mikrocontroller-basierter DRAM-Tester arbeitet auf echten TTL-Schwellen — dieser eingeschlossen. Grenzwertige Chips, die in einer echten Maschine versagen, können auf jedem Tester dieser Klasse trotzdem bestehen. Eine Hobby-Platine «professionell» zu nennen ist ein Wort, keine Messung.
Was du stattdessen bekommst: Jeder Test auf dieser Seite steht im Quellcode. Lies ihn, prüfe ihn oder ändere ihn. Das ist ein stärkeres Versprechen als ein Adjektiv.
Tausende Chips getestet, quer durch alle unterstützten Typen — kein einziger beschädigt. 5-V-DRAM in einen ZIF-Sockel zu stecken ist schlicht nicht das, was diese Teile killt.
Lieber nicht im laufenden Betrieb wechseln? Zieh den USB-Stecker vor dem Chipwechsel — der Tester macht bei jedem Einschalten ohnehin einen vollen Selbsttest. Schutz, den du im Schaltplan siehst, schlägt Schutz, den du glauben musst.
Vormontierte SMD-Platine, voll getestet — du lötest die Through-Hole-Teile in rund 30 Minuten. Die 4116-, SOJ- und ZIP-Adapter gibt es einzeln oder im Bundle bei jedem Kanal.
Alle Schaltpläne, PCB-Dateien, Firmware und Testalgorithmen liegen auf GitHub unter GPLv3. Jede Aussage auf dieser Seite lässt sich durch Lesen des Codes bestätigen — Einschränkungen inklusive. Selber bauen? Die Gerber-Dateien für die SMD- und die Through-Hole-Version liegen ebenfalls dort. Pull Requests, Issues und Forks willkommen.